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>>薄膜、薄片厚度测试仪 简介 薄膜、薄片厚度的测定是薄膜、薄片物理性能检测的基本要素之一,薄膜、薄片的一些基本特性和强度性能与厚度有密切相关，它是一个重要的性能检测项目。HK-210型薄膜、薄片厚度测试仪是薄膜、薄片厚度测定的专用仪器，广泛适用于薄膜、薄片及其他片状材料的厚度测定。本厚度仪的结构和技术性能完全符合GB/T 6672等标准要求,是薄膜、薄片生产、科研及商检等企业和部门不可缺少的常用仪器。 >>薄膜、薄片厚度测试仪 标准 GB/T 6672 《塑料薄膜和薄片厚度的测定 机械测量法》 ISO 534 《单层厚度的测定以及纸板紧度的计算方法》； ISO 438 《层积厚度和紧度测定》。 >>薄膜、薄片厚度测试仪 参数 Ø 测量范围：0-4mm Ø 精度：0.001mm可选 Ø 示值误差：0.05% Ø 接触面积直径：10mm Ø 接触压力：1N Ø 平行度：≤0.005mm Ø 工作环境：温度（20±10）℃，湿度＜85% >>薄膜、薄片厚度测试仪
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