摄影时100%通光,专业用在半导体硅晶片、LCD基板、FPD电路板、太阳能电池片等微电子行业做精密检测
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本款工业检测显微镜52XA总放大倍数为50X-800X,配有大移动范围的载物台、落射照明器、平场消色差物镜、大视野目镜,同时配有偏光装置。可广泛用于半导体硅晶片、LCD基板、FPD电路板、太阳能电池片等微电子行业做精密检测之用。
性能特点:
1、采用大工作台,适合大工件的检测
2、采用大视野目镜和长距平场物镜,视野宽阔,视场平坦,成像清晰
3、配置了落射照明装置、视场光栏和孔径光栏、照明均匀可调。同时配有偏光装置
4、三目镜筒可自由切换目视观察与显微摄影,摄影时可100%通光,可连接多种摄像装置
一、显微镜技术参数:
序号 |
名称 |
技术参数 |
1 |
平场目镜 |
大视野WF10X(ф18mm) |
2 |
平场分划目镜 |
WF10X(0.1格值) |
3 |
长距平场消色差物镜(无盖玻片): |
PL5X/0.12、 PLL10X/0.25、PLL20X/0.40、PLL40X/0.60(弹簧)、PLL80X/0.75(弹簧) |
4 |
总放大倍数 |
50X-800X |
5 |
三目观察头: |
30°倾斜 |
6 |
转换器: |
五孔 外向式滚珠内定位 |
7 |
粗微调调焦范围: |
载物台升降范围35mm,粗微动同轴调焦, 微动格值0.8μm, 带锁紧和限位装置 |
8 |
载物台: |
三层机械移动式 尺寸250X230mm 移动范围: 154X154mm 也可选换超大工作台:尺寸280×270mm 移动范围:204×204mm |
9 |
载物台移动: |
具有快速手推功能,可实现快速到位 |
10 |
光瞳距离: |
54-75mm |
11 |
偏光装置 |
内置检偏振片,可进行切换 |
12 |
照明: |
亮度可调 带可变光栏 卤钨灯泡 6V20W 落射照明器带视场光栏、孔径光栏 |
13 |
仪器重量 |
净重8kg 毛重10kg |
14 |
仪器尺寸 |
仪器尺寸40X50X47(cm) 包装尺寸59X49X53 (cm) |
二、选购件技术参数:
序号 |
名称 |
技术参数 |
1 |
摄像头 |
①日本JVC摄像头+图像采集卡
具有单张、定时、连续采集图像,连接多媒体,打印输出等功能 |
②数字摄像头130万、200万、320万、500万像素
具有单张、定时、连续采集图像,显示比例尺,测量等功能,可以连接多媒体、打印、EMAIL等多种方式输出。 |
③数码相机+基本测量管理软件
1500万像素佳能单反相机,具有实时采集图像,图像融合,显示比例尺,测量等功能,可以连接多媒体,打印,EMAIL等多种方式输出 |
2 |
图像分析软件 |
①专业定量金相分析软件UV-MA
包含多达400多项完全符合GB、YB、JB、ASTM等标准自动评级项目,具有对金相图像进行自动评级、图谱比对、定标测量、定倍打印、查看图谱、输出报表和图像融合等多种功能。 |
②矿相分析软件UV-K
通过对显微图像的优化着色处理及测量来对矿相进行定量分析。可单张、连续采集;可显示标尺;可对显微图像进行长度、角度、半径、周长、面积等多种测量;可以连接多媒体、打印、EMAIL等多种方式输出。 |
③金相分析软件UV-ME
界面清晰、操作简单、基本功能齐全,价格合理,同时又可为根据用户的需求免费加装十项符合国家GB和行业JB/YB标准的金相分析项目。可单张、连续采集;可显示标尺;可对显微图像进行长度、角度、半径、周长、面积等多种测量;可以连接多媒体、打印、EMAIL等多种方式输出。 |
④基本测量管理软件UV
可单张、定时、连续采集;可显示标尺、放大倍数;可对显微图像进行长度、角度、半径、周长、面积等多种测量;可以连接多媒体、打印、EMAIL等多种方式输出。 |
3 |
摄像接口 |
摄像头接口:1X、0.5X |
数码相机接口:1X、2.5X/4X |
4 |
平场目镜 |
测微目镜:0.1尺形、0.05尺形、0.5网形、0.2网形、0.1坐标形 |
5 |
物镜 |
平场消色差物镜:60X、100X |
6 |
标尺 |
物镜测微尺0.01mm |
目镜测微尺:0.1尺形、0.05尺形、0.5网形、0.2网形、0.1坐标形 |