TS-SI-1ZP型一维离面位移相移电子散斑干涉仪

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一维离面位移相移电子散斑干涉仪

TS-SI-1ZP型一维离面位移相移电子散斑干涉仪

一维离面位移相移电子散斑干涉仪能实时观察代表离面位移的干涉条纹，配以稳定的三点弯曲梁加载实验装置和圆盘受均布载荷（气压）或集中力实验装置，使得整个系统稳定可靠，易于调节，可以获得很好的教学效果。 主要技术指标 ◆ 光源：半导体激光器（绿光）输出功率20mw，波长532nm ◆ 相机：1280×1024 USB2.0数字摄像头 ◆ 镜头：25mm定焦镜头（标配），可选配其它C接口镜头 ◆ 工作距离：400～1000mm ◆ 相移器：10nm ◆ 条纹分辨率：1/20级条纹 ◆ 最大范围： Φ250mm ◆ 相移控制精度：0.01V

主要配置

主机：1套

20mW半导体泵浦固体激光器（内置）：1个

C接口镜头（f25mm）AVENIR：1个

TS-1000USB摄像头（内置）：1只

600mm*900mm光学平台：1套

圆盘受均布载荷（集中力）实验装置：1套

条纹实时显示软件、相移软件：各一套

原理示意

应用范围

可用于测量被测物体表面离面微位移分布

应用

用于复合材料的无损检测。

教学

用于材料力学和实验力学课程的实验教学；可演示圆盘受均布载荷时表面离面变形分布。

科研

用于测量任意试件表面的离面位移分布。

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